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共129筆資料
G 物理
G01 測量（計量見G06M）；測試
G01J 紅外光、可見光、紫外光強度、速度、光譜成分，偏振、相位或脈衝特性之測量；比色法；輻射高溫度測定法[2]
G01J 1/00 光度測定法，如照相之曝光計（分光光度測定法見3/00；專用於輻射高溫測定法者見5/00）
G01J 1/02 零部件
G01J 1/04 光學或機械部件
G01J 1/06 限制入射光之角度
G01J 1/08 專用於光度測定法之光源裝置
G01J 1/10 採用與基準光或基準電參數相比較之方法
G01J 1/12 完全採用視覺之方法（1/20優先）
G01J 1/14 用與不同級別亮度之表面作比較的方法
G01J 1/16 用電輻射檢測器（1/20優先）
G01J 1/18 用與基準電參數作比較之方法
G01J 1/20 改變被測值或基準值之強度，使其於檢測器產生相等的效應，如經由改變入射角
G01J 1/22 在光通路中應用可變元件，如用濾光器、偏振裝置（1/34優先）
G01J 1/24 採用電輻射檢測器
G01J 1/26 用於被測值或基準值之自動變化（光強度之調節見G05D 25/00）
G01J 1/28 利用光源之強度或距離之改變（1/34優先）
G01J 1/30 採用電輻射檢測器
G01J 1/32 用於被測值或其準值之自動變化（光強度之調節見G05D25/00）
G01J 1/34 交替或依次地應用分開的光通路，如閃光器
G01J 1/36 採用電輻射檢測器
G01J 1/38 完全用視覺之方法（1/10優先）
G01J 1/40 用可見度之極限或消光作用
G01J 1/42 用電輻射檢測器（光學或機械部件見1/04；與基準光或基準電參數作比較者見1/10）
G01J 1/44 電路
G01J 1/46 採用電容器者
G01J 1/48 利用化學效應
G01J 1/50 利用指示器之顏色變化，如感光計
G01J 1/52 利用照相效應
G01J 1/54 利用觀察氣體間之光反應
G01J 1/56 利用輻射壓力或輻射計效應
G01J 1/58 利用光致發光
G01J 1/60 利用測量瞳孔之方法
G01J 3/00 光譜測定法；分光光度測定法；單色器；測定顏色 [4]
G01J 3/02 零部件
G01J 3/04 狹縫裝置
G01J 3/06 掃描裝置
G01J 3/08 光束開關裝置
G01J 3/10 專用於光譜學或色度學之光源裝置
G01J 3/12 光譜之產生；單色器
G01J 3/14 用折射元件；如稜鏡（3/18，3/26優先）
G01J 3/16 有自準直裝置者
G01J 3/18 用衍射元件，如光柵（光柵本身見G02B）
G01J 3/20 羅蘭(Rowland)圓光譜儀
G01J 3/22 利特羅(Littrow)鏡式光譜儀
G01J 3/24 採用外形對特定級有利之光柵
G01J 3/26 應用多級反射，如法布里珀羅（Fabry-perot）干涉儀，可變干涉濾光器
G01J 3/28 光譜測試(應用濾色器者3/51) [4]
G01J 3/30 直接從光譜本身測量譜線強度（3/42，3/44優先）
G01J 3/32 利用單個檢測器順序地測試譜帶
G01J 3/36 利用分開的檢測器測試兩個或更多之譜帶 [1,2006.01]
G01J 3/40 用測定光譜照片密度之方法測量譜線強度；攝譜儀（3/42，3/44優先）[4]
G01J 3/42 吸收光譜法；雙束光譜法；閃爍譜法；反射光譜法（光束開關裝置見3/08）[4]
G01J 3/427 雙波長光譜法 [4]
G01J 3/433 調製光譜法；微分光譜法[4]
G01J 3/44 拉曼光譜法；散射光譜法 [4]
G01J 3/443 發射光譜法 [4]
G01J 3/447 偏振光譜法 [4]
G01J 3/45 干涉光譜法 [4]
G01J 3/453 利用振幅之相關性 [4]
G01J 3/457 相關光譜法，如強度者（3/453優先）[4]
G01J 3/46 顏色之測量；顏色測量裝置，如色度計（測量色溫見5/60）[4]
G01J 3/50 用電輻射檢測器 [4]
G01J 3/51 用濾色器者 [4]
G01J 3/52 用色圖表
G01J 4/00 測量光之偏振（經由測量光之偏振面之旋轉以測試或分析材料者見G01N 21/21）[2]
G01J 4/02 分隔視場型之偏振計；半影式偏振計 [2]
G01J 4/04 用電檢測方法之偏振計（4/02優先）[2]
G01J 5/00 輻射高溫測定法，例如紅外線或光學溫度計 [1,2006.01,2022.01]
G01J 5/02 結構零部件 [1,2006.01,2022.01]
G01J 5/03 專門用於輻射高溫計的指示或記錄裝置 [2022.01]
G01J 5/04 殼體
G01J 5/05 防止光學系統構件受到污染的裝置；防止輻射路徑阻塞的裝置[2022.01]
G01J 5/06 消除干擾輻射影響之裝置；補償敏感度變化的裝置(調整收集輻射的立體角見5/07；波長選擇的方法見5/0801) [1,2006.01,2022.01]
G01J 5/061 藉由控制設備或其部件的溫度，例如使用冷卻裝置或恒溫器 [2022.01]
G01J 5/068 藉由控制溫度以外的參數 [2022.01]
G01J 5/07 用於調整收集輻射的立體角的裝置，例如調整或定向視野，追踨位置或編碼角度位置(光學校正見5/0806) [2022.01]
G01J 5/08 光學特徵
G01J 5/0801 波長選擇或鑑別裝置 [2022.01]
G01J 5/0802 光學濾波器 [2022.01]
G01J 5/0803 輻射訊號隨時間衰減的裝置 [2022.01]
G01J 5/0804 快門[2022.01]
G01J 5/0805 切斷輻射的方法 [2022.01]
G01J 5/0806 聚焦或校準元素，例如透鏡或凹面鏡 [2022.01]
G01J 5/0808 凸面鏡 [2022.01]
G01J 5/0813 平面鏡；平行相位板 [2022.01]
G01J 5/0818 波導 [2022.01]
G01J 5/0821 光纖 [2022.01]
G01J 5/0831 遮罩；孔徑板；空間光調節器 [2022.01]
G01J 5/0875 視窗；其固定裝置 [2022.01]
G01J 5/10 用電輻射檢測器
G01J 5/12 用熱電元件，如熱電偶 [1,2006.01]
G01J 5/14 其電學特徵 [1,2006.01]
G01J 5/16 與冷接點有關的裝置；環境溫度或其他可變因素影響之補償
G01J 5/18 (轉見5/03)
G01J 5/20 用對輻射敏感之電阻器，熱敏電阻器或半導體，例如光導設備[1,2006.01]
G01J 5/22 其電學特徵 [1,2006.01]
G01J 5/24 採用專用電路，如橋路[1,2006.01]
G01J 5/26 (轉見5/00)
G01J 5/28 用光發射或光伏電池 [1,2006.01]
G01J 5/30 其電學特徵[1,2006.01]
G01J 5/32 轉見5/03
G01J 5/34 用電容器，例如熱釋電電容器[1,2006.01,2022.01]
G01J 5/35 其電學特徵 [2022.01]
G01J 5/36 利用氣體之電離
G01J 5/38 利用固定或流體之延伸或膨脹
G01J 5/40 用雙金屬元件 [1,2006.01]
G01J 5/42 用高利（Golay）電池
G01J 5/44 利用諧振頻率之改變，如用壓電晶體 [1,2006.01]
G01J 5/46 利用輻射壓力或輻射計效應
G01J 5/48 熱影像；完全用視覺之方法的技術 [1,2006.01,2022.01]
G01J 5/50 轉見5/00
G01J 5/52 應用與參考源作比較之方法，如隱絲高溫計 [1,2006.01,2022.01]
G01J 5/53 參考源，例如標準燈具；黑體 [2022.01]
G01J 5/54 光學配置 [1,2006.01]
G01J 5/56 其電學特徵 [1,2006.01]
G01J 5/58 利用吸收；利用偏振；利用消光效應 [1,2006.01,2022.01]
G01J 5/59 利用偏振；其細節 [2022.01]
G01J 5/60 利用色溫度之測定 [1,2006.01]
G01J 5/62 轉見5/0805
G01J 5/70 高溫計量測的被動補償，例如使用環境溫度感測器或殼內溫度感測[2022.01]
G01J 5/80 校正(使用參考源的比較見5/52) [2022.01]
G01J 5/90 測試，檢查輻射高溫計的操作[2022.01]
G01J 7/00 測量光速
G01J 9/00 測量光學相位差（控制光束相位之設備或裝置見G01J3/01）；測定相干性之程度；測量光學波長（光譜測定法見G02F3/00）[3]
G01J 9/02 採用干涉法（用干涉儀以光學方法測量物體之線性寸尺見G01B 9/02）[3]
G01J 9/04 利用差拍同一光源但頻率不同之兩個波而測量得的較低頻率之相位偏移 [3]
G01J 11/00 測量單個光脈波或光脈波序列之特性 [5]
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