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共397筆資料
G 物理
G01 測量（計量見G06M）；測試
G01R 測量電變量；測量磁變量（利用轉換成電變量對任何種類之物理變量進行測量參見G01類目下之附註(4)；測量電場中離子之擴散，如電泳，電滲透見G01N；應用電或磁之方法研究材料之非電或非磁性質見G01N；指示共振電路之正確調諧見H03J3/12；電子脈波計數器之監測見H03K21/40；監測通信系統之運轉見H04）
G01R 1/00 包含在5/00至13/00和31/00目中的各類儀器或裝置之零部件（測量電消耗量之裝置所特有的結構零部件見11/02）[3,8]
G01R 1/02 一般的結構零部件（非專門用於特殊變量之測量裝置之零部件見G01D 7/00）
G01R 1/04 外殼；支承構件；端子裝置 [1,8]
G01R 1/06 測量引線；測量探針（19/145，19/165優先；引線之端片見H01R11/00）[3]
G01R 1/067 測量探針 [3]
G01R 1/07 非接觸探針 [6]
G01R 1/073 多個探針 [3]
G01R 1/08 指針；刻度；刻度照明 [1,2006.01]
G01R 1/10 軸承裝置 [1,8]
G01R 1/12 帶式或線式軸承者
G01R 1/14 制動裝置；阻尼裝置
G01R 1/16 磁體（一般者見H01F）
G01R 1/18 防電場或磁場之屏蔽裝置，如防地球之磁場
G01R 1/20 電測量儀器內所使用的基本電氣元件之改進；此等元件與此類儀器之結構組合 [1,8]
G01R 1/22 起電流互感器次級繞組作用之鉗式測試器（使用互感器進行電壓或電流隔離見15/18）
G01R 1/24 傳輸線，如波導管，測量部分，如開槽段
G01R 1/26 探針作線性運動
G01R 1/28 於測量儀器內提供基準值之設備，如提供標準電壓，標準波形
G01R 1/30 電測量儀器與基本電子線路之結構組合，如與放大器之結構組合
G01R 1/36 電測量儀器之過負載保護裝置或電路 [1,8]
G01R 1/38 改變指示特性之裝置，如改變空氣間隙（電路見G01D3/02）
G01R 1/40 對儀器進行改進，使之能指示在一定時間內所達到的最大值或最小值，如用最大值指示器指針 [3]
G01R 1/42 熱動作者
G01R 1/44 對儀器進行改進以實現溫度補償 [2]
G01R 3/00 專門用於製造測量儀器之設備或方法
G01R 5/00 將單個電流或電壓轉換成為機械位移之儀表（振動式檢流計見9/02）
G01R 5/02 動圈式儀表
G01R 5/04 具有位於線圈外面之磁體
G01R 5/06 具有磁芯者
G01R 5/08 專用於寬角度偏轉的；具有偏心旋轉線圈者
G01R 5/10 吊絲式檢流計
G01R 5/12 框式檢流計
G01R 5/14 動鐵式儀表
G01R 5/16 具有旋轉磁體者
G01R 5/18 具有旋轉軟鐵者；如指針式檢流計
G01R 5/20 感應式儀表，如費拉里(Ferraris)儀表
G01R 5/22 熱電式儀表（用熱轉換器測量電流或電壓之有效值見19/03）
G01R 5/24 經由線或帶之延長或經由氣體或流體之膨脹而工作者
G01R 5/26 由雙金屬元件之變形而工作者
G01R 5/28 靜電式儀表（與輻射探測器相組合者見G01T）
G01R 5/30 箔片式靜電計
G01R 5/32 線式靜電計；針式靜電計
G01R 5/34 象限式靜電計
G01R 7/00 能將兩個或多個電流或電壓轉換為單一機械位移之儀表（9/00優先）[1,2006.01]
G01R 7/02 用於形成和或差值
G01R 7/04 用於形成商值（用於測量電阻者見27/08）
G01R 7/06 動鐵式
G01R 7/08 動圈式，如交叉線圈式
G01R 7/10 具有多於兩個可動線圈者
G01R 7/12 用於形成乘積
G01R 7/14 動鐵式
G01R 7/16 同時具有固定及可動線圈者，即功率計
G01R 7/18 具有與固定及可動線圈進行磁耦合之鐵芯
G01R 9/00 採用機械共振之儀表
G01R 9/02 振動式檢流計，如用於測量電流
G01R 9/04 應用振動簧片，如用於測量頻率
G01R 9/06 磁驅動者
G01R 9/08 壓電驅動者
G01R 11/00 用於測量電功率或電流之時間積分之機一電裝置，如測量消耗量之時間積分（電動車輛之電消耗監測見B60L 3/00） [1,8]
G01R 11/02 結構零部件（能夠應用於一般電測量儀表者見1/00）
G01R 11/04 外殼；支架；端子裝置
G01R 11/06 感應式儀表之磁路 [2]
G01R 11/067 所用的線圈 [2]
G01R 11/073 所用的電樞 [2]
G01R 11/09 圓盤式電樞 [2]
G01R 11/10 制動磁體；阻尼裝置
G01R 11/12 軸承裝置 [1,8]
G01R 11/14 有磁釋放裝置者
G01R 11/16 適用於電表的計數器之改進
G01R 11/17 誤差之補償；所用的調節或控制器件 [2]
G01R 11/18 對環境條件變化之補償 [2]
G01R 11/185 溫度補償 [2]
G01R 11/19 補償由於擾動轉矩引起的誤差，如多相電表之旋轉磁場誤差 [2]
G01R 11/20 感應式儀表內之相位誤差補償 [2]
G01R 11/21 補償由於電流之阻尼作用而產生的誤差，如於過載量程之調節 [2]
G01R 11/22 轉矩之調節，如起動轉矩之調節，對多相電表進行調節以獲得相等的轉矩 [2]
G01R 11/23 補償由於摩擦而產生的誤差，如在輕負荷程內的調節 [2]
G01R 11/24 用於避免或指示欺騙性使用的裝置 [4]
G01R 11/25 用於指示故障或對故障發出信號之裝置 [2,4]
G01R 11/30 電動式儀表
G01R 11/32 瓦時計
G01R 11/34 安時計
G01R 11/36 感應式儀表，如費拉里(Ferraris)儀表（費拉里儀器見5/20）
G01R 11/38 用於單相運轉者
G01R 11/40 用於多相運轉者
G01R 11/42 所用的電路
G01R 11/46 電動鐘表式儀表；振盪計；擺式儀表
G01R 11/48 專用於測量有功分量或無功分量之儀表，專用於測量視在功率之儀表
G01R 11/50 用於測量有功分量者
G01R 11/52 用於測量無功分量者
G01R 11/54 同時測量有功分量、無功分量、視在功率此三種變量中之至少兩個變量者
G01R 11/56 專用的計費儀表 [1,8]
G01R 11/57 多費率儀表（11/63優先）[2]
G01R 11/58 其計費開關器件 [2]
G01R 11/60 減法儀表；測量最大或最小負荷小時數之儀表
G01R 11/63 過消耗儀表，如當超過預定功率值時測量消耗量 [2]
G01R 11/64 最大值儀表；如一定期間內之計費係根據該段時間內所需的最大值予以計算
G01R 11/66 電路
G01R 13/00 顯示電變量或波形之裝置（僅僅利用機械位移進行顯示見5/00，7/00，9/00；頻譜之記錄見23/18）[4]
G01R 13/02 以數位形式顯示被測的電變量（記數器見G06M；一般的模/數轉換見H03M 1/00）[4]
G01R 13/04 用於產生永久性記錄 [4]
G01R 13/06 為記錄瞬時擾動而作的改進，如經由起動或加速記錄介質
G01R 13/08 應用機械式直接書寫方法之機電記錄系統
G01R 13/10 用筆劃之長度或點之位置以表示變量之間歇記錄
G01R 13/12 化學式記錄，如過電壓攝測儀（13/14優先）
G01R 13/14 記錄於光敏材料上
G01R 13/16 記錄於磁介質上
G01R 13/18 應用邊界位移
G01R 13/20 陰極射線示波器（陰極射線管見H01J 31/00）
G01R 13/22 所用電路（產生脈波，如鋸齒波者見H03K 3/00）
G01R 13/24 時基偏轉電路
G01R 13/26 控制電子束強度之電路（亮度控制見H01J 29/98）
G01R 13/28 同時或順序地顯示多於一個變量之電路（電子開關見H03K 17/00）
G01R 13/30 加入參考標誌之電路，如用於定時，定標，頻標
G01R 13/32 顯示如過渡過程之此種非重複性函數之電路；觸發電路；同步電路；時基延展電路
G01R 13/34 經由採樣顯示單個波形之電路，如用於甚高頻者（採樣保持裝置見G11C 27/02）[2]
G01R 13/36 應用輝光放電長度之儀器，如光輝示波器（放電管見H01J）[4]
G01R 13/38 採用由機－電測量系統所產生的光束之穩定或振盪式移動（此種測量系統本身見5/00，7/00，9/00）[4]
G01R 13/40 採用光束之調變而非為經由機械位移，如經由克爾(Kerr)效應 [4]
G01R 13/42 應用火花放電長度之儀器，如經由測量產生火花所需要的電極最大距離
G01R 15/00 包含在17/00至29/00和33/00至33/26和35/00目中的各種測量裝置之零部件（儀器之零件見1/00；測量引線，測量探針見1/06；過載保護裝置見1/36；校正傳遞函數的電路見G01D 3/02） [1,8]
G01R 15/04 分壓器 [6]
G01R 15/06 具有電抗元件，如電容式變壓器 [6]
G01R 15/08 改變量程之電路
G01R 15/09 自動改變量程的電路 [6]
G01R 15/12 用於多功能測試器之電路，如按需要測量電壓，電流或阻抗
G01R 15/14 為提供電壓或電流隔離所做的改進，如用於高電壓或高電流網路（分壓器見15/04）[6]
G01R 15/16 使用電容裝置 [6]
G01R 15/18 使用感應裝置，如互感器 [6]
G01R 15/20 使用電－磁裝置，如霍爾效應裝置 [6]
G01R 15/22 使用光發射裝置，如LED光耦合器 [6]
G01R 15/24 使用光調節裝置 [6]
G01R 15/26 使用光以外波的調節裝置，如無線電波或聲波 [6]
G01R 17/00 包括與一個基準值作比較的測量裝置，如電橋
G01R 17/02 被測值自動與基準值相比較的裝置
G01R 17/04 其中基準值連續地或周期地於被測值範圍內掃描
G01R 17/06 自動平衡裝置
G01R 17/08 其中表示已測得的力或力矩為表示基準值之力或力矩所平衡
G01R 17/10 交流或直流測量電橋（自動比較或再平衡裝置見17/02）
G01R 17/12 應用電流之比較，如具有差動電流輸出之電橋
G01R 17/14 用經過校正的零點指示器指示被測值，如百分比電橋，允差電橋（17/12，17/16優先）
G01R 17/16 於電橋之一個臂或多個臂內裝有放電管或半導體裝置，如採用差分放大器之電壓表
G01R 17/18 具有多於四個支路者
G01R 17/20 交流或直流電位差測量裝置（自動比較或再平衡裝置見17/02）
G01R 17/22 用經過校正的零點指示器指示測試值
G01R 19/00 用於測量電流或電壓或者用於指示其存在或符號之裝置（5/00優先；用於測量生物電流或電壓者見A61B 5/24）[1,4,2006.01]
G01R 19/02 有效值即均方根值之測量
G01R 19/03 採用熱轉換器 [4]
G01R 19/04 交流或脈波峰值之測量 [2]
G01R 19/06 有功分量之測量；無功分量之測量
G01R 19/08 電流密度之測量
G01R 19/10 和、差值或比值之測量
G01R 19/12 變化率之測量
G01R 19/14 電流方向之指示；電壓極性之指性
G01R 19/145 指示電流或電壓之存在 [3]
G01R 19/15 指示電流之存在 [3]
G01R 19/155 指示電壓之存在 [3]
G01R 19/165 指示電流或電壓高於或低於預定值，或者係處於預定的數值範圍之內或之外（具有再生作用之電路，如史密特觸器見H03K3/00；門限開關見H03K 17/00）[3]
G01R 19/17 給予發生此一情況之次數指示 [3]
G01R 19/175 指示電流或電壓通過指定值之時刻，如通過零點之時刻 [3]
G01R 19/18 採用將直流轉換成交流，如用截波器
G01R 19/20 採用磁放大器
G01R 19/22 採用將交流轉換成直流
G01R 19/25 採用數位測量技術（以數字形式顯示被測電變量之裝置見13/02）[3]
G01R 19/252 採用將電壓或電流轉換成頻率之類比－數位轉換器且對此一頻率進行測量 [4]
G01R 19/255 採用在一段正比於電壓或電流之時間期間內進行脈波記錄之類比－數位轉換器，上述脈波由一個具有固定頻率之脈波發生器提供 [2]
G01R 19/257 採用對不同的基準值與電流值或電壓值進行比較之類比－數位轉換器，如採用逐次比較方法 [4]
G01R 19/28 供於具有分佈參數之電路內進行測量用者
G01R 19/30 測量於一定的時間間隔內電流或電壓所達到的最大值或最小值（19/04優先；為指定於一定時間間隔內所達到的最大值或最小值而對儀器所作的改進見1/40）[2,3]
G01R 19/32 對溫度變化之補償（溫度補償儀器之改進見1/44） [2,8]
G01R 21/00 電功率，功率因數之測量裝置（7/12優先）[4]
G01R 21/01 於具有分佈參數之電路內的測量（21/04，21/07，21/09，21/12優先）[2]
G01R 21/02 用熱方法 [2]
G01R 21/04 於具有分佈參數之電路內的測量
G01R 21/06 經由測量電流及電壓（21/08至21/133優先）[4]
G01R 21/07 於具有分佈參數之電路內的測量（21/09優先）[2]
G01R 21/08 經由使用電磁效應元件，如霍耳效應元件（此類元件本身見H01L）[2]
G01R 21/09 於具有分佈參數之電路內的測量 [2]
G01R 21/10 經由應用電路元件之平方律特性，如二極管之平方律特性，以測量由已知阻抗之負載所吸收的功率（21/02優先）[2]
G01R 21/12 於具有分佈參數之電路內的測量
G01R 21/127 經由採用脈波調變（21/133優先）[4]
G01R 21/133 經由應用數位技術 [4]
G01R 21/14 對溫度變化之補償 [2]
G01R 22/00 用於測量電功率或電流之時間積分之裝置，如採用電表（其機－電裝置見11/00；電動車輛之電消耗監測見B60L 3/00）[4,8]
G01R 22/02 經由電解方法 [4]
G01R 22/04 經由量熱方法 [4]
G01R 22/06 利用電子方法 [8]
G01R 22/08 利用類比技術 [8]
G01R 22/10 利用數位技術 [8]
G01R 23/00 測量頻率之裝置；頻譜分析裝置（鑑頻器見H03D）
G01R 23/02 頻率測量裝置，如脈波重複率之測量；電流或電壓週期之測量裝置（短時間間隔之測量見G04F）
G01R 23/04 於具有分佈參數之電路內的測量
G01R 23/06 利用將頻率轉換為電流或電壓之幅值
G01R 23/07 應用調諧電路之諧振響應，如柵漏計 [2]
G01R 23/08 應用調諧電路之失諧響應
G01R 23/09 應用類比積分器，如由輸入信號及規定的放電信號與漏電流之平衡以確定平均值之電容器（對輻射探測器產生的脈波進行積分之輻射探測儀器見G01T 1/15）[2]
G01R 23/10 經由將頻率變換成脈波序列然後對其計數
G01R 23/12 經由將頻率轉換成為相移
G01R 23/14 經由外差；經由拍頻比較（經由未經調變的不同頻率信號之拍差而產生振盪見H03B 21/00）[2]
G01R 23/15 利用非線性或數位元件指示脈波頻率高於或低於預定值或者在預定之數值範圍之內或之外 [3]
G01R 23/16 譜分析；傅立葉(Fourier)分析
G01R 23/163 用於在具有分佈參數之電路內進行測量 [3]
G01R 23/165 採用濾波器 [3]
G01R 23/167 用數位濾波器 [3]
G01R 23/17 具有光學輔助裝置 [3]
G01R 23/173 類似於掃描掃調接收機之頻率擺動設備（掃調接收機本身見H03J7/32）[3]
G01R 23/175 利用延時裝置，如抽頭之延時線 [3]
G01R 23/177 極低頻之分析 [3]
G01R 23/18 具有用於記錄頻譜之設備
G01R 23/20 非線性失真之測量
G01R 25/00 測量一個電壓與一個電流之間之相位角或電壓之間或電流之間之相位角之裝置（功率因數之測量見21/00；脈波序列中單個脈波位置之測量見29/02；相位鑑別器見H03D）[2]
G01R 25/02 於具有分佈參數之電路內的測量
G01R 25/04 包括對移相器之調整以產生預定的相位差，如零位差
G01R 25/06 採用商值儀表
G01R 25/08 經由對標準脈波進行計數（時間間隔之測量見G04F）[2]
G01R 27/00 測量電阻、電抗、阻抗或其衍生特性之裝置
G01R 27/02 電阻、電抗、阻抗或其衍生的其他兩端特性，如時間常數之實值或複值測量（僅僅經由測量相位角者見25/00）
G01R 27/04 於具有分佈常數之電路內的測量
G01R 27/06 反射係數之測量；駐波比之測量
G01R 27/08 經由測量電流及電壓以測量電阻
G01R 27/10 採用形成商值之雙線圈或交叉線圈儀表
G01R 27/12 採用手搖發電機，如搖表
G01R 27/14 經由測量由一基準源所得到的電流或電壓以測量電阻值（27/16，27/20，27/22優先）
G01R 27/16 由另一電源電流流經的元件或網路之阻抗測量，如電纜，電力線
G01R 27/18 對地電阻之測量
G01R 27/20 地電阻之測量；接地，如接地板接觸電阻之測量
G01R 27/22 流體電阻之測量（所用測量容器，電極見G01N 27/07）
G01R 27/26 電感或電容之測量；品質因數之測量，如利用應用諧振法；損失因數之測量；介電常數之測量
G01R 27/28 衰減，增益，相移或四端網路即雙通網路之衍生特性之測量；瞬變響應之測量（於線路傳輸系統內者見H04B 3/46）
G01R 27/30 具有記錄特性之設備，如利用繪製倪奎士(Nyquitst)圖
G01R 27/32 於具有分佈參數之電路內的測量 [2]
G01R 29/00 未包括於19/00至27/00各目內的電量之測量或指示裝置
G01R 29/02 單個脈波特性之測量，如脈波平度之偏差，上升時間、持續時間（幅值之測量見19/00；重複率之測量見23/00；兩個循環脈波序列之相位差測量見25/00；監測脈波序列之圖形見H03K 5/19）[3]
G01R 29/027 指示脈波之特性係高於亦或低於預定值或處於預定的數值範圍之內或之外 [3]
G01R 29/033 給予發生上述情況之次數指示 [3]
G01R 29/04 形狀因數之測量，即瞬時值之均方根值及算術平均值之商；峰值因數之測量，即最大值與均方根值之商
G01R 29/06 調變深度之測量
G01R 29/08 電磁場特性之測量
G01R 29/10 天線之輻射圖
G01R 29/12 靜電場之測量
G01R 29/14 電場分佈之測量
G01R 29/16 多相網路之不對稱性之測量
G01R 29/18 相序指示；同步指示
G01R 29/20 匝數之測量；繞組之變換比或耦合因數之測量（儀器變壓器之校正儀表見35/02）
G01R 29/22 壓電性質之測量
G01R 29/24 電荷電量之測量裝置（靜電儀表見5/28；指示電流之存在見19/15；用於測量電功率或電流之時間積分裝置見22/00）[2,8]
G01R 29/26 噪音值之測量；信噪比之測量 [2]
G01R 31/00 電性能之測試裝置；電故障之探測裝置；以所進行的測試未在其他位置提供為特徵之電測試裝置（在製造過程中測試或量測半導體或固體器件見H01L 21/66；線路傳輸系統之測試見H04B 3/46） [1,2006.01]
G01R 31/01 對相似的物品依次進行測試，如在成批生產中的“合格／不合格”測試；測試物件多點通過測試站（電纜連續通過測試設備測試31/59;測試介電強度或擊穿電壓31/12）[6,2006.01,2020.01]
G01R 31/08 探測電纜，傳輸線或網路中之故障 [1,2006.01,2020.01]
G01R 31/10 通過增加故障點之損壞程度，如通過採用按特定程序操作之脈波發生器進行熔接
G01R 31/11 採用脈衝反射法
G01R 31/12 測試介電強度或崩潰電壓[1,2006.01,2020.01]
G01R 31/14 所用之電路
G01R 31/16 測試容器之構造；其電極
G01R 31/18 對相似物品依次進行測試，如大批生產中之“合格／不合格”測試
G01R 31/20 製備物品或樣品以便於進行測試
G01R 31/24 放電管的測試（製造中之測試見H01J 9/42）[1,2,2006.01,2020.01]
G01R 31/25 真空管之測試 [2]
G01R 31/26 單個半導體裝置之測試 （在製造或處理過程中的測試或量測見H01L 21/66；光伏裝置之測試見H02S 50/10）[1,2,2006.01,2014.01,2020.01]
G01R 31/265 無觸點測試 [6]
G01R 31/27 構成電路之一部分器件實際上並未自電路上移開之狀況下，對器件做測試，例如補償由於周圍元件的影響 [6]
G01R 31/28 電路之測量，如用信號故障檢尋器（用於測試短路、斷路、洩漏或不正確連接見31/02；計算機之檢驗見G06F11/00；靜態儲存器正確運轉之檢驗或待機或離線運轉期間之測試見G11C29/00） [1,8]
G01R 31/30 臨界測試，如利用改變供給電壓（計算機之臨界檢驗見G06）[2]
G01R 31/302 無觸點測試（非接觸型探針見1/07 ）[5]
G01R 31/303 積體電路者（31/305至31/315優先）[6]
G01R 31/304 印刷或混合電路者（31/305至31/315優先）[6]
G01R 31/305 使用電子束 [5]
G01R 31/306 印刷或混合電路者 [6]
G01R 31/307 積體電路者 [6]
G01R 31/308 使用非電離電磁輻射，如光輻射 [5]
G01R 31/309 印刷或混合電路者 [6]
G01R 31/311 積體電路者 [6]
G01R 31/312 使用電容法 [5]
G01R 31/315 使用電感法 [5]
G01R 31/316 類比電路之測試 [6]
G01R 31/3161 臨界測試 [6]
G01R 31/3163 性能測試 [6]
G01R 31/3167 綜合類比和數位電路之測試 [6]
G01R 31/317 數位電路的測試 [6]
G01R 31/3173 臨界測試 [6]
G01R 31/3177 邏輯操作的測試，如用邏輯分析儀 [6]
G01R 31/3181 性能測試（31/3177優先）[6]
G01R 31/3183 試驗性輸入量之產生，如測量之向量、圖形或順序 [6]
G01R 31/3185 測試的重新配置，如LSSD，劃分 [6]
G01R 31/3187 置入式測試 [6]
G01R 31/319 測試器硬體，即輸出處理電路 [6]
G01R 31/3193 經由在實際回應與已知的無故障回應之間的比較 [6]
G01R 31/327 電路斷續器，開關或電路斷路器的測試（與開關有關的結構見H01H）[6]
G01R 31/333 高壓電路斷路器開關容量的測試（開關裝置出現電弧或放電的探測裝置見H01H 9/50，33/26）[6]
G01R 31/34 電機之測試 [3,2006.01,2020.01]
G01R 31/36 用於測試，測量或監控蓄電池或電池之電氣狀況之裝置，如充電容量或電量狀態[SoC][3,2006.01,2019.01,2020.01]
G01R 31/364 具整合量測裝置之電池端子連接器 [2019.01]
G01R 31/367 其所用的軟體，如用於測試電池之系統建模或查表法 [2019.01]
G01R 31/371 具遠端指示，如於充電器外部[2019.01]
G01R 31/374 具有溫度或老化數值的校正手段 [2019.01]
G01R 31/378 特別適用於電池或蓄電池類[2019.01]
G01R 31/379 用於鉛酸電池 [2019.01]
G01R 31/382 用於監控電池或蓄電池變量，如電量狀態[SoC] [2019.01]
G01R 31/3828 使用電流積分 [2019.01]
G01R 31/3832 不具電池電壓量測[2019.01]
G01R 31/3835 僅涉及電壓量測 [2019.01]
G01R 31/3842 結合電流及電壓量測[2019.01]
G01R 31/385 用於測量電池或蓄電池變量之裝置(用於監控31/382) [2019.01]
G01R 31/387 ˙測定安培- 小時充電容量或電量狀態[SoC] [2019.01]
G01R 31/388 ˙˙涉及電壓量測 [2019.01]
G01R 31/389 量測內部阻抗，內部電導或相關變量 [2019.01]
G01R 31/392 測定電池老化或劣化狀況，如電池健康狀況(SoH)[2019.01]
G01R 31/396 用於測試或監控電池內個別或群組單元之資料擷取或處理[2019.01]
G01R 31/40 測試電源（光伏裝置之測試見H02S 50/10） [6,2006.01,2014.01,2020.01]
G01R 31/42 交流電電源測試 [6]
G01R 31/44 測試燈 [6,2006.01,2020.01]
G01R 31/50 對電氣設備、線路、電纜或組件的短路，連續性漏電流或線路不正確連接之測試(火星塞測試H01T 13/58) [2020.01]
G01R 31/52 測試短路，漏電流或接地故障
G01R 31/54 測試連續性[2020.01]
G01R 31/55 測試錯誤的線路連接[2020.01]
G01R 31/56 測試電氣設備(變壓器測試見31/62；連接測試31/66) [2020.01]
G01R 31/58 線路，電纜或導體的測試(電繞組測試31/72) [2020.01]
G01R 31/59 電纜連續通過測試設備時，例如 在製造過程中[2020.01]
G01R 31/60 多芯電纜中的導線識別[2020.01]
G01R 31/62 變壓器測試[2020.01]
G01R 31/64 電容器測試[2020.01]
G01R 31/66 連接測試，例如 插頭或不可斷開的接頭（測試錯誤的線路連接見31/55）[2020.01]
G01R 31/67 測試電氣設備或電路中導線連接的正確性[2020.01]
G01R 31/68 可釋放連接的測試，例如 安裝在印刷電路板上的端子[2020.01]
G01R 31/69 電纜或線束末端的端子；插頭；插座，例如 牆壁電器中的插座或電源插座(31/68優先) [2020.01]
G01R 31/70 測試組件和印刷電路板之間的連接（G01R 31/68優先）[2020.01]
G01R 31/71 焊點測試[2020.01]
G01R 31/72 電繞組測試（變壓器測試G01R 31/62）[2020.01]
G01R 31/74 保險絲測試[2020.01]
G01R 33/00 測量磁變量之裝置或儀器
G01R 33/02 測量磁場或磁通量之方向或大小（33/20優先；為導航或勘測目的而測量地球磁場之方向或大小見G01C；用於探勘，用於測量地球之磁場見G01V3/00）[4]
G01R 33/022 測量梯度 [3]
G01R 33/025 補償漏磁場 [3]
G01R 33/028 電動式磁強計 [3]
G01R 33/032 採用磁－光設備，如法拉第者 [3]
G01R 33/035 採用超導器件 [3]
G01R 33/038 採用永久磁體，如平衡，扭轉器件 [3]
G01R 33/04 應用磁通控制原理
G01R 33/05 於薄膜元件內 [3]
G01R 33/06 採用電磁器件
G01R 33/07 霍爾效應器件 [6]
G01R 33/09 磁阻器件 [6]
G01R 33/10 磁場分佈之繪製
G01R 33/12 測量物體之磁性或者固體或流體樣品之磁性（涉及磁共振者見33/20）[4]
G01R 33/14 磁滯曲線之測量或繪製
G01R 33/16 磁化率之測量
G01R 33/18 磁致伸縮性質之測量
G01R 33/20 涉及磁共振（醫學方面見A61B 5/055；磁共振陀螺測試儀見G01C 19/60）[4,5]
G01R 33/24 用於測量磁場或磁通量之方向或大小 [4]
G01R 33/26 採用光泵激 [4]
G01R 33/28 33/44至33/64各目內儀器之零部件 [5]
G01R 33/30 樣品操作裝置，如樣品槽，離心機構 [5]
G01R 33/31 其溫度控制 [6]
G01R 33/32 激勵或檢測系統，如用射頻信號 [5]
G01R 33/34 結構零部件，如諧振器 [5]
G01R 33/341 包括表面線圈 [6]
G01R 33/3415 包括次級線圈陣列 [6]
G01R 33/343 開槽管或回路縫隙型 [6]
G01R 33/345 波導型（33/343優先）[6]
G01R 33/36 電零部件，如與接收器匹配或耦合之線圈 [5]
G01R 33/38 主磁場或梯度磁場之產生，均勻或穩定系統 [5]
G01R 33/381 使用電磁體（電磁體本身見H01F 7/06）[6]
G01R 33/3815 具有超導線圈，如其所用電源（超導磁體見H01F 6/00）[6]
G01R 33/383 使用永久磁鐵（永久磁鐵本身見H01F 7/02）[6]
G01R 33/385 使用梯度磁場線圈 [6]
G01R 33/387 非均勻性之補償（屏蔽見33/42）[6]
G01R 33/3873 使用磁鐵物體 [6]
G01R 33/3875 使用修正線圈裝置，如有源調整 [6]
G01R 33/389 磁場的穩定 [6]
G01R 33/42 屏蔽（一般的屏蔽見H05K9/00）[5,6]
G01R 33/421 主或梯度磁場者 [6]
G01R 33/422 射頻場者 [6]
G01R 33/44 採用核磁共振（33/24，33/62優先）[5]
G01R 33/46 核磁共振(NMR)頻譜 [5]
G01R 33/465 應用於生物材料，如在玻璃試管內檢驗 [6]
G01R 33/48 核磁共振(NMR)圖像系統[5]
G01R 33/483 從體積特定區域選擇信號或波譜，如在玻璃試管內分析波譜 [6]
G01R 33/485 基於化學位移訊息 [6]
G01R 33/50 基於張馳時間之確定 [5]
G01R 33/54 信號處理系統，如使用脈波序列 [5]
G01R 33/56 圖像增強或修正，如減法或平均技術 [5]
G01R 33/561 經由減少掃描時間，即快速獲取系統，如使用平面回波脈波序列 [6]
G01R 33/563 移動材料的，如流動對比血管造影 [6]
G01R 33/565 圖像變形之修正，如由於磁場不均勻性 [6]
G01R 33/567 利用生理信號控制的閘門 [6]
G01R 33/58 圖像增強之校正，如使用測試探頭 [5]
G01R 33/60 採用電子順磁共振（33/24，33/62優先）[5]
G01R 33/62 採用雙共振（33/24優先）[5]
G01R 33/64 採用回旋共振（33/24優先）[5]
G01R 35/00 包含於以上各目內的儀器之測試或校正 [2]
G01R 35/02 輔助裝置之測試或校正，如根據規定的變換比，相位角或額定瓦數對儀表變壓器進行測試或校正
G01R 35/04 測量功率或電流之時間積分之儀表之測試或校正
G01R 35/06 採用頻閃方法
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