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65筆資料
G 物理
G01 測量(計量見G06M);測試
G01T 核輻射或X射線輻射之測量(材料之輻射分析,質譜測定法見G01N;計數器本身見G06M,H03K;用於分析輻射或粒子之放電管見H01J40/00,47/00,49/00)
G01T 1/00 X射線輻射、γ射線輻射、微粒子輻射或宇宙線輻射之測量(3/00,5/00優先)[2]
G01T 1/02 劑量計(1/15優先;X射線輻照時間測量見H05G1/28)[2]
G01T 1/04 化學劑量計(1/06,1/08優先)
G01T 1/06 玻璃劑量計
G01T 1/08 照像劑量計(感光材料或照相工藝見G03C)
G01T 1/10 發光劑量計
G01T 1/105 讀出裝置(1/115優先)[2]
G01T 1/11 熱發光劑量計
G01T 1/115 讀出裝置 [2]
G01T 1/12 量熱劑量計
G01T 1/14 靜電劑量計(電離室之構造見H01J 47/02)
G01T 1/142 充電裝置,讀出裝置 [2]
G01T 1/15 累積由輻射探測器產生的脈波之儀器,如應用二極管泵激電路(一般脈波頻率計見G01R 23/02)
G01T 1/16 輻射強度測量(1/29優先)[2]
G01T 1/161 於核醫學領域之應用,如人體內之計數(放射性物質作用於人體見A61M 36/00)[2]
G01T 1/163 全身計數器 [2]
G01T 1/164 閃爍照相法(放射性同位素見G21G 4/00;示蹤劑見G21H 5/00)[2]
G01T 1/166 包括探測器與被測體之相對運動 [2]
G01T 1/167 測量物體放射性含量,如污染之測量(全身計數器見1/163)[2]
G01T 1/169 污染的表面面積之探查及定位(利用核輻射、天然或感生的輻射進行探勘見G01V 5/00)[2]
G01T 1/17 專用型探測器以外之電路裝置
G01T 1/172 帶符合電路裝置者(1/178優先)[2]
G01T 1/175 電源電路 [2,2006.01]
G01T 1/178 用於測量存在其他放射性物質中之比活度,如於空氣中或液體中,如於雨水中天然比活度 [2]
G01T 1/18 用計數管裝置,如用蓋格(Geiger)計數器(計數管見H01J 47/00)
G01T 1/185 用電離室裝置(電離室之構造見H01J 47/02)[2]
G01T 1/20 用閃爍探測器
G01T 1/202 閃爍體是晶體者
G01T 1/203 閃爍體是塑料者
G01T 1/204 閃爍體是液體者
G01T 1/205 閃爍體是氣體者
G01T 1/208 專用於閃爍探測器之電路,如用於光電倍增管部件 [2]
G01T 1/22 用塞倫科夫(Cerenkov)探測器
G01T 1/24 用半導體探測器(半導體探測器本身見H01L 31/00)
G01T 1/26 用電阻探測器
G01T 1/28 用二次發射探測器(一般二次電子發射電極見H01J 1/32)
G01T 1/29 對輻射束流之測量,如測量射束位置或截面;輻射之空間分佈之測量(閃爍造影術見1/164)[2]
G01T 1/30 測量放射性物質之半衰期
G01T 1/32 測量粒子之極化
G01T 1/34 測量截面,如測量粒子之吸收截面
G01T 1/36 測量X射線或核輻射之能譜分佈
G01T 1/38 粒子辨別及相對質量之測量,如測量能量損耗與距離之關係(dE/dx)[2]
G01T 1/40 光譜儀之穩定 [2]
G01T 3/00 中子輻射之測量(5/00優先)[2]
G01T 3/02 用屏蔽其他輻射之方法
G01T 3/04 用量熱器
G01T 3/06 用閃爍探測器 [2]
G01T 3/08 用半導體探測器(半導體探測器本身見H01L31/00)[2]
G01T 5/00 粒子之運動或軌跡之記錄(火花室見H01J 47/00);粒子軌跡之處理或分析 [2]
G01T 5/02 軌跡之處理;軌跡之分析
G01T 5/04 雲霧室,如威爾遜(Wilson)雲室
G01T 5/06 氣泡室
G01T 5/08 閃爍室(放電管見H01J 40/00,47/00;半導體裝置見H01L)
G01T 5/10 板或塊,其中經由處理後核粒子之軌跡成為可見者,如利用照相乳膠,利用雲母
G01T 5/12 具有多線室或平行板電離室之電路裝置,如火花室(火花放電管本身見H01J47/00)[2]
G01T 7/00 輻射計量儀器之附件
G01T 7/02 用於接收或存貯被測試的樣品之收集裝置
G01T 7/04 用過濾法
G01T 7/06 用靜電沉澱法(7/04優先)
G01T 7/08 運送接收的樣品之裝置
G01T 7/10 用轉台
G01T 7/12 備有報警動作之機構
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