按 Enter 到主內容區
:::

經濟部智慧財產局Logo

:::

雷射掃描裝置

75121035824.jpg

透過多光軸與定焦面消像差光學設計,大面積F-θ雷射同軸視覺技術可改善傳統邊緣影像模糊之缺點,更因為其成像方式是透過掃描振鏡反射,其掃描速度可以大於6000 mm/s 並藉由所見即所打的方式,可大幅縮短檢測時間。此外F-θ 同軸視覺掃描技術可同時進行約160mmx160mm 之大面積加工與檢測,並可針對光程差補償後由軟體自動修正雷射與視覺位置誤差,有助於達到高精度與高產能的雷射加工方式。

  • 發布日期 : 106-05-12
  • 更新日期 : 109-02-14
  • 發布單位 : 專利行政企劃組
  • 瀏覽人次 : 780

訂閱電子報

每月寄送一次,提供我國智財權發展與新知 讓您完整掌握IP最新動態、國際趨勢

回頁首