專利侵害鑑定要點之修訂—發明新型篇
經濟部中央標準局於1996年1月訂定「專利侵害鑑定基準」,歷經多年後,由於法規變動及產業技術創新,其中部分內容已有不足,或有不合時宜之處,難以應付實際需求,迭遭業界及專家學者之關切。鑒於專利侵權判決之快速演進,本局就2004年版專利侵害鑑定要點進行全面修正,完成2016年版「專利侵權判斷要點」。專題一由張仁平先生所著之「專利侵害鑑定要點之修訂—發明新型篇」針對發明及新型專利部分,依據專利侵權判斷之主要步驟流程,分別說明我國「專利侵害鑑定要點」之修正重點,並探討相關實務操作問題。
智慧財產權月刊207期
- 發布日期 : 105-03-03
- 更新日期 : 113-12-06
- 發布單位 : 經濟部智慧財產局
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