新世代射頻系統使用大量相控陣列天線與射頻模組，其可靠度在製程上有諸多不確定性與落差，一個單元失能將導致系統失效，欲確保系統穩定度，必須以快速校正以及量測技術來撿取合格之元件及確保系統之特性。此工作耗時甚鉅，形成生產之瓶頸。本發明針對產線之特性，克服傳統陣列天線校正系統的耗時與陣列單元間偶合效應的不確定性，有效率地針對因通道不匹配與不確定性所造成之振幅與相位誤差進行校正。特色在於不需進行機械式掃描，而是僅藉由數位相移器的切換即可完成整個陣列天線的校正，在不犧牲校正精確度的同時大幅縮短校正時間，因此具有空間簡化、架構簡單、成本低廉、校正速度快速、操作簡單等特點，克服多生產線同時運作之障礙。

此發明應用範圍首先聚焦於第五代行動通訊。其產品的出廠必須要經由波束校正才能掌握其通訊特性，因此如何快速進行陣列天線的校正會是第五代行動通訊的重要瓶頸，也是核心技術之一。本發明除可以精簡產線應用中之硬體與時間成本外，針對已出廠的陣列天線亦可提供快速的檢修與校正，特別是第五代行動通訊中的大型陣列天線使用，如Massive MIMO 等，與傳統校正方法相比，本發明更能凸顯其技術優勢以及經濟效益。該技術並擴張應用射頻元件之群測機制，單一量測儀器可以進行多個射頻元件、乃至於多生產線同時進行。

• 發布日期 : 112-10-05
• 更新日期 : 112-10-05
• 發布單位 : 專利行政企劃組
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